Электронно-микроскопическая характеристика повреждений волос, причиненных предметами различной остроты

В статье представлен метод исследования волос с применением электронного сканирующего микроскопа Hitachi FlexSem1000 II (Япония), описана методика пробоподготовки. В рамках экспериментального исследования были нанесены повреждения лезвиями разной степени затупленности: острые (до 2—25 мкм), средней остроты (до 26—40 мкм), затупленные (до 41—50 мкм) и тупые (свыше 51—60 мкм). По результатам исследований установлены специфические признаки, характерные для каждой группы остроты травмирующего предмета, что проиллюстрировано микрофотографиями. Выделена подгруппа идеально острых предметов, с остротой 1—3 мкм, которые формируют довольно специфическую морфологическую картину реза, отличающуюся от других острых предметов, разработан алгоритм диагностики остроты следообразующего объекта.